ispGAL22LV10具有与GALQ22LV10和GAL22V10完全兼容的功能/熔丝图。此外，ispGAL22LV10与GAL22LV10。ispGAL22LV10还与GAL22LV0共享相同的28引脚PLCC封装引脚。
独特的测试电路和可编程单元允许在制造过程中进行完整的交流、直流和功能测试。因此，莱迪思半导体提供了所有GAL产品100%的现场可编程性和功能性。此外，还规定了10000个擦除/写入周期和超过20年的数据保留期。
特色
•系统内可编程
-IEEE 1149.1标准TAP控制器端口编程
-4线串行编程接口
-最少10000个编程/擦除周期
•高性能E2CMOS®技术
-4 ns最大传播延迟
-Fmax=250 MHz
-从时钟输入到数据输出的最大3 ns
-UltraMOS®高级CMOS技术
•3.3V低压22V10架构
-JEDEC兼容3.3V接口标准
-5V容差输入和I/O
-具有标准5V TTL设备的I/O接口
•所有逻辑输入和I/O引脚上的有源上拉
•兼容标准22LV10/22V10设备
-功能/保险丝图与22LV10/22V10设备兼容
-参数兼容22LV10
•E2电池技术
-系统内可编程逻辑
-100%测试/100%产量
-高速电擦除（<100ms）
-20年数据保留
应用
•应用包括：
-DMA控制
-状态机控制
-高速图形处理
-软件驱动硬件配置
（图片：引出线）
