特征
■ 基于第二代Multiple Array MatrixX的高性能3.3-V EEPROM可编程逻辑器件（PLD）
（MAX®）体系结构（见表1）
■ 通过内置的IEEE标准1149.1联合测试行动组（JTAG）接口实现3.3V系统内可编程性（ISP）
先进的销锁定能力
–符合IEEE标准1532的系统可编程性（ISP）电路中的MAX 7000AE设备
–EPM7128A和EPM7256A设备ISP电路与IEEE标准1532兼容
■ 符合IEEE标准1149.1的内置边界扫描测试（BST）电路
■ 支持JEDEC Jam标准测试和编程语言（STAPL）JESD-71
■ 增强的ISP功能
–增强的ISP算法可加快编程速度（不包括EPM7128A和EPM7256A设备）
–ISP_Done位以确保完整编程（不包括EPM7128A和EPM7256A设备）
–在系统内编程期间，上拉I/O引脚上的电阻器
■ 引脚与流行的5.0-V MAX 7000S设备兼容
■ 从600到10000个可用门的高密度PLD
■ 扩展温度范围
特色
■ 通过内置IEEE标准1149.1联合测试行动组（JTAG）接口实现5.0 V系统内可编程性（ISP），可用于MAX 7000S设备
–ISP电路与IEEE标准1532兼容
■ 包括5.0-V MAX 7000设备和基于5.0-V ISP的MAX 7000S设备
■ MAX7000S器件中内置JTAG边界扫描测试（BST）电路，具有128个或更多宏单元
（图片：引出线）
