带有18位通用总线收发器的“LVT18512”和“LVT182512”扫描测试设备是德州仪器SCOPETM可测试性集成电路系列的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以便于测试复杂的电路板组件。通过4线测试访问端口（TAP）接口完成对测试电路的扫描访问。
此外，这些设备专门设计用于低电压（3.3V）VCC操作，但具有向5V系统环境提供TTL接口的能力。
在正常模式下，这些设备是18位通用总线收发器，结合了D型锁存器和D型触发器，以允许数据在透明、锁存或时钟模式下流动。它们可以用作两个9位收发器或一个18位收发器。测试电路可由TAP激活以获取出现在器件引脚处的数据的快照样本或对边界测试单元执行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPETM通用总线收发器的功能操作。
每个方向的数据流由输出使能（OEAB\和OEBA\）、锁存使能（LEAB和LEBA）和时钟（CLKAB和CLKBA）输入控制。对于A-to-B数据流，当LEAB为高时，设备以透明模式运行。当LEAB为低时，A数据被锁存，而CLKAB保持在静态低或高逻辑电平。否则，如果LEAB为低，则在CLKAB的低到高转换上存储A数据。当OEAB\低时，B输出激活。当OEAB\高时，B输出处于高阻抗状态。B到A数据流与A到B数据流相似，但使用OEBA、LEBA和CLKBA输入。
在测试模式下，SCOPETM通用总线收发器的正常操作被禁止，并且测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。启用时，测试电路根据IEEE标准1149.1-1990中描述的协议执行边界扫描测试操作。
四个专用测试引脚用于观察和控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。此外，测试电路执行其他测试功能，例如对数据输入进行并行签名分析（PSA）和从数据输出生成伪随机模式（PRPG）。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。
LVT182512的B端口输出设计为源或汇高达12 mA，包括等效的25系列电阻器，以减少过冲和下冲。
SN54LVT18512和SN54LVT282512的特点是在-55°C至125°C的整个军事温度范围内工作。SN74LVT18512DGG和SN74LVT282512的工作温度为-40°C至85°C。
特色
- 德州仪器COPETM系列可测试产品的成员
- 德州仪器WidebusTM家族成员
- 最先进的3.3-V ABT设计支持混合模式信号操作（具有3.3-V VCC的5V输入和输出电压）
- 支持低至2.7 V的无调节电池操作
- UBTTM（通用总线收发器）结合了D型锁存器和D型触发器，可在透明、锁存或时钟模式下操作
- LVT182512器件的B端口输出具有等效的25系列电阻器，因此不需要外部电阻器
- 兼容IEEE Std 1149.1-1990（JTAG）测试访问端口和边界扫描架构
- SCOPETM指令集
- IEEE标准1149.1-1990所需说明和可选夹具和HIGHZ
- 输入端的并行签名分析
- 从输出生成伪随机模式
- 采样输入/切换输出
- 输出二进制计数
- 设备标识
- 偶奇偶运算码
- 包装选项包括64针塑料薄收缩小轮廓（DGG）和64针陶瓷双平面（HKC）包装，使用0.5-mm中心间距
