SCANSTA112SMX将IEEE标准1149.1测试总线扩展到多点测试总线环境中。与单个串行扫描链相比，多点方法的优势在于提高了测试吞吐量，以及从系统中移除电路板并保留对剩余模块的测试访问的能力。每个SCANSTA112SMX支持多达7个本地IEEE1149.1扫描链，可以单独访问或串行组合。
寻址是通过用与Slot输入值匹配的值加载指令寄存器来完成的。通过Park指令将本地TAP控制器停在稳定的TAP控制器状态之一，可以轻松完成背板和板间测试。32位TCK计数器允许在一个端口上执行内置自检操作，同时测试其他扫描链。
STA112具有独特的特征，即背板端口和LSP0端口是双向的。它们可以被配置为可选地充当主端口或从端口，以便备用测试主机可以从LSP0端口控制整个扫描链网络，而背板端口变为从端口。
特色
- 真正的IEEE 1149.1分层和多点寻址能力
- 8个地址输入支持多达249个唯一插槽地址、一个询问地址、广播地址和4个多播组地址（保留地址000000）
- 7 IEEE 1149.1兼容的可配置本地扫描端口
- 双向背板和LSP0端口是可互换的从端口
- 当背板端口成为从属端口时，能够忽略背板端口的TRST。
- 缝合器模式绕过1级和2级协议
- 模式寄存器0允许绕过本地TAP，选择单独插入扫描链，或以两个或三个为一组串行插入扫描链
- 透明模式可通过单个指令启用，方便地将背板IEEE 1149.1引脚缓冲到单个本地扫描端口上的引脚
- 通用本地端口直通位用于为闪存编程或监控设备状态提供写入脉冲。
- 已知通电状态
- 所有本地扫描端口上的TRST
- 32位TCK计数器
- 16位LFSR签名压缩器
- 本地TAP可通过OE输入变为TRI-STATE，以允许备用测试主机控制本地TAP（LSP0-3具有TRI-STATE通知输出）
- 3.0-3.6V VCC电源操作
- 支持带电插拔
