AD585JP-REEL的性能使其成为高速10位和12位数据采集系统的理想选择，在这些系统中，快速采集时间、低采样保持偏移和低下垂至关重要。AD585JP-REEL可以在最大3µs的时间内获取±0.01%的信号，然后使用片上保持电容器以3 mV的最大采样保持偏移和小于1 mV/ms的衰减保持该信号。如果需要较低的压降，则可以增加较大的外部保持电容器。
AD585JP-REEL中使用的高速模拟开关显示出0.5 ns的孔径抖动，使该设备能够以12位精度在高达78 kHz的频率下对全量程（20 V峰峰值）信号进行采样。
AD585JP-REEL可与任何用户定义的反馈网络一起使用，以在采样模式下提供任何期望的增益。片上精密薄膜电阻器可用于提供+1、-1或+2的增益。保持模式中的输出阻抗足够低，即使在驱动由逐次逼近a/D转换器呈现的动态负载时。但是，输出受到保护，防止意外短路造成损坏。
HOLD（保持）命令的控制信号可以是高激活或低激活。如果提供了合适的参考电平，则差分保持信号与所有逻辑系列兼容。为TTL兼容性提供了片上TTL参考电平。
AD585JP-REEL有三种性能等级。JP等级适用于0°C至+70°C的商业温度范围，并封装在20针PLCC中。AQ等级适用于-25°C至+85°C的工业温度范围，并封装在14针cerdip中。SQ和SE等级适用于-55°C至+125°C军用温度范围，并封装在14针cerdip和20针LCC中。
特色
- 3.0 ms采集时间至60.01%最大值
- 低降速：最大1.0 mV/ms
- 采样/保持偏移步长：最大3 mV
- 孔径抖动：0.5 ns
- 扩展温度范围：-55°C至+125°C
- 内部保持电容器
- 内部应用电阻器
- 有关其他功能，请参阅数据表
（图片：引出线）
