带有八进制D型锁存器的BCT8373A扫描测试设备是德州仪器SCOPETM可测试集成电路系列的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以便于测试复杂的电路板组件。通过4线测试访问端口（TAP）接口完成对测试电路的扫描访问。
在正常模式下，这些设备在功能上等同于“F373”和“BCT373”八进制D型锁存器。测试电路可以由TAP激活，以获取设备终端处出现的数据的快照样本。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPETM八进制锁存器的功能操作。
在测试模式下，SCOPETM八进制锁存器的正常操作被禁止，并且测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路可以执行边界扫描测试操作，如IEEE标准1149.1-1990中所述。
四个专用测试终端用于控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。此外，测试电路可以执行其他测试功能，例如对数据输入进行并行签名分析（PSA）和从数据输出生成伪随机模式（PRPG）。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。
SN54BCT8373A的特点是在-55°C至125°C的全军事温度范围内运行。SN74BCT8373ADW的工作温度为0°C至70°C。
特色
- 德州仪器SCOPETM系列稳定产品的成员
- 八路测试集成电路
- 功能等同于正常功能模式下的“F373”和“BCT373”
- 兼容IEEE标准1149.1-1990（JTAG）测试访问端口和边界扫描架构
- 与测试访问端口（TAP）同步的测试操作
- 通过识别TMS引脚上的双高电平电压（10V）实现可选测试复位信号
- SCOPETM指令集
- IEEE标准1149.1-1990所需指令、可选INTEST、CLAMP和HIGHZ
- 输入端的并行签名分析
- 从输出生成伪随机模式
- 采样输入/切换输出
- 封装选项包括塑料小外形（DW）封装、陶瓷芯片载体（FK）以及标准塑料和陶瓷300 mil DIP（JT、NT）
