SN74ABT8245DW

• 德州仪器SCOPETM系列稳定产品的成员
• 兼容IEEE标准1149.1-1990（JTAG）测试访问端口和边界扫描架构
• 在正常功能模式下，功能等同于'F245和'ABT245
• SCOPETM指令集：
  • IEEE标准1149.1-1990所需指令、可选INTEST、CLAMP和HIGHZ
  • 具有屏蔽选项的输入并行签名分析
  • 从输出生成伪随机模式
  • 采样输入/切换输出
  • 输出二进制计数
  • 偶奇偶运算码
• 每个I/O有两个边界扫描单元，具有更大的灵活性
• 最先进的EPIC-IIBTM BiCMOS设计显著降低功耗
• 封装选项包括塑料小外形封装（DW）、陶瓷芯片载体（FK）和标准陶瓷DIP（JT）

  SCOPE和EPIC-IIB是德克萨斯仪器公司的商标。

带有八进制总线收发器的ABT8245扫描测试设备是德州仪器SCOPETM可测试性集成电路系列的成员。该系列设备支持IEEE标准1149.1-1990边界扫描，以便于测试复杂的电路板组件。通过4线测试访问端口（TAP）接口完成对测试电路的扫描访问。

在正常模式下，这些设备在功能上等同于'F245和'ABT245八进制总线收发器。测试电路可由TAP激活以获取出现在器件引脚处的数据的快照样本或对边界测试单元执行自检。在正常模式下激活TAP不会影响SCOPETM八进制总线收发器的功能操作。

数据流由方向控制（DIR）和输出启用（）输入控制。根据DIR处的逻辑电平，允许从A总线到B总线或从B总线到A总线进行数据传输。输出使能（）输入可用于禁用设备，以便有效隔离总线。

在测试模式下，SCOPETM总线收发器的正常操作被禁止，并且测试电路能够观察和控制设备的I/O边界。当启用时，测试电路可以执行IEEE标准1149.1-1990中描述的边界扫描测试操作。

四个专用测试引脚控制测试电路的操作：测试数据输入（TDI）、测试数据输出（TDO）、测试模式选择（TMS）和测试时钟（TCK）。此外，测试电路执行其他测试功能，例如对数据输入进行并行签名分析（PSA）和从数据输出生成伪随机模式（PRPG）。所有测试和扫描操作都与TAP接口同步。

SN54ABT8245的特点是在-55°C至125°C的全军事温度范围内工作。SN74ABT8245的工作温度为-40°C至85°C。