Altera®FLEX 6000可编程逻辑器件（PLD）系列为大容量门阵列设计提供了低成本的替代方案。FLEX 6000设备基于OptiFLEX架构，在保持高性能和可布线性的同时最大限度地减小了管芯尺寸。这些器件具有可重新配置的SRAM元件，这给了设计者在原型和设计测试期间快速改变设计的灵活性。设计者还可以通过电路内重新配置在操作期间更改功能。
FLEX 6000设备可重新编程，并在装运前进行100%测试。因此，设计人员无需为故障覆盖目的生成测试向量，从而能够专注于模拟和设计验证。此外，设计者不需要管理不同门阵列设计的库存。FLEX 6000设备配置在板上，以实现所需的特定功能。
特色
■ 为大容量门阵列应用提供理想的低成本、可编程替代方案，并允许快速设计更改
在原型或设计测试期间
■ 产品特点
–基于寄存器丰富、查找表（LUT-）的体系结构
–OptiFLEX®架构可提高设备区域效率
–5000至24000个闸门的典型闸门（见表1）
–内置低偏斜时钟分配树
–所有设备的100%功能测试；测试向量或扫描链
不需要
■ 系统级功能
–通过外部配置实现电路内可重新配置（ICR）
设备或智能控制器
–5.0-V设备完全符合外围组件
互连特殊兴趣组（PCI SIG）PCI本地总线
规范，版本2.2
–内置联合测试行动小组（JTAG）边界扫描测试
（BST）电路符合IEEE标准1149.1-1990，可用
而不消耗额外的设备逻辑
–MultiVoltTM I/O接口操作，允许设备桥接
在不同电压下运行的系统之间
–低功耗（典型规格小于0.5 mA
在待机模式下）
–3.3V设备支持热插拔
在原型或设计测试期间
■ 产品特点
–基于寄存器丰富、查找表（LUT-）的体系结构
–OptiFLEX®架构可提高设备区域效率
–5000至24000个闸门的典型闸门（见表1）
–内置低偏斜时钟分配树
–所有设备的100%功能测试；测试向量或扫描链
不需要
■ 系统级功能
–通过外部配置实现电路内可重新配置（ICR）
设备或智能控制器
–5.0-V设备完全符合外围组件
互连特殊兴趣组（PCI SIG）PCI本地总线
规范，版本2.2
–内置联合测试行动小组（JTAG）边界扫描测试
（BST）电路符合IEEE标准1149.1-1990，可用
而不消耗额外的设备逻辑
–MultiVoltTM I/O接口操作，允许设备桥接
在不同电压下运行的系统之间
–低功耗（典型规格小于0.5 mA
在待机模式下）
–3.3V设备支持热插拔
