基于FPGA的LPDDR4内存测试仪
定制内存测试仪解决方案,用于测试物理(LP)DDR内存
- 零件编号:AS_LPDDR4_MTB_F
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为什么选择LPDDR4内存模块测试仪?存储器经历了从晶片的管芯级到封装管芯再到模块制备的各种过程,其中它容易受到外部环境因素的损坏,如湿度、冷热温度、灰尘颗粒等。工业中的DRAM模块需要进行大规模的严格计算。业务运营中的任何影响都可能导致财务和资源方面的巨大损失。汽车行业中的许多LPDDR4应用(ADAS、车载信息娱乐)需要可靠的LPDDR4存储器、强大的连接,并期望在极端温度下具有性能。内存模块测试程序对于防止诸如系统故障之类的灾难性事件或避免业务操作延迟是必不可少的。
主要功能和优点
- 集成LPDDR4控制器和PHY,专为LPDDR4存储器设计
- 使用Xilinx Kintex Ultrascale+FPGA开发
- 软件图形用户界面以及使用Python脚本自动测试
- 根据测试的性质灵活生成多个场景
- 测试精度和测试速度
- 用于智能故障管理的分析数据
- 产量提高技术,如PPR(封装后修复)
- 管理软件可控性的灵活用户界面
- USB3.0测试仪硬件接口(FTDI)
- 用于控制测试内存寄存器的GUI
- 高速软件连接,运行分析以了解状态并对通过/失败结果作出反应
- 使用Xilinx FPGA进行严格测试和验证,速度高达LPDDR2400
- 采用灵活的新方法设计
包装物件清单 (含配件)
- 特定于应用程序的图形用户界面
- 定制硬件板
- 用于FPGA的LPDDR4控制器和PHY解决方案